Atomic force microscopy (AFM) and 3D confocal microscopy as alternative techniques for the morphological characterization of anodic TiO2 nanoporous layers
Diego P. Oyarzún, Omar E. Linarez Pérez, Manuel López Teijelo, César Zúñiga, Eduardo Jeraldo, Daniela A. Geraldo, Ramiro Arratia-Perez
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(Scopus)
Huella
Profundice en los temas de investigación de 'Atomic force microscopy (AFM) and 3D confocal microscopy as alternative techniques for the morphological characterization of anodic TiO2 nanoporous layers'. En conjunto forman una huella única.