Reliability and risk analysis under peaks over a random threshold value-at-risk method based on a new flexible skew-logistic distribution

Morad Alizadeh, P. J. Hazarika, Jondeep Das, Javier E. Contreras-Reyes, G. G. Hamedani, Piotr Sulewski, Haitham M. Yousof

Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › revisión exhaustiva

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Reliability and risk analysis under peaks over a random threshold value-at-risk method based on a new flexible skew-logistic distribution'. En conjunto forman una huella única.

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